半導體溫度沖擊試驗主要規(guī)格：

　　溫度范圍：-20～150℃(度);

　　-40～150℃(度);

　　-70～150℃(度);

　　波 動 性：±0.5℃;

　　均 勻 性：±1.0℃;

　　容 積：50L～8000L供客戶;

　　冷熱沖擊機：定溫試驗、曲線式溫度試驗;

　　內膽材質：鏡面不銹鋼;

　　PID微電腦智能溫控系統，冷熱平衡方式精密控溫，恒溫點可任意設定，目標溫度和實時溫度同時顯示致

　　外箱材質：不銹鋼或鍍鋅鋼板塑粉噴涂;

　　壓 縮 機：法國泰康全封閉壓縮機組;

　　控 制 器：日本或韓國產控制器;

　　循環(huán)單元：大風量離心式不銹鋼葉翼風機，強制空氣循環(huán)，以確保箱內溫度均勻性

　　冷單元：法國泰康全封閉工業(yè)壓縮機，環(huán)保致冷劑，風冷冷凝器，自動負載容量調整蒸發(fā)器;

　　恒溫恒濕試驗箱加熱單元：鱗片式不銹鋼電熱管;

　　觀 察 窗：雙層隔熱自動防露玻璃觀察窗

　　恒溫恒濕試驗箱箱內照明：防爆型日光燈

半導體溫度沖擊試驗產品說明：

　　該設備主要由箱體、制冷系統、加熱系統、空氣循環(huán)系統以及控制系統組成。 加熱采用不銹鋼翅片加熱管;升溫、降溫、加濕、去濕獨立，*的BTHC平衡調溫調濕方式。箱體的高低溫試驗機+高低溫試驗箱外殼為采用霧面不銹鋼，內膽采用鏡面不銹鋼板，箱門中間設大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗情況。制冷系統采用全封閉進口壓縮機組，機械式單級制冷或復迭低溫回路系統，全自動控制與安全保護協調系統。

　　冷熱沖擊機 高低溫冷熱沖擊試驗機高低溫試驗箱主要功能:

　　該設備主要是針對于電工、電子產品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。該試驗設備主要用于對產品按照標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

主要特點:

　　●風路循環(huán)出風回風設計，風壓、風速均符合測試標準，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。

　　●升溫、降溫、系統*獨立可提高效率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。

　　●溫度控制采用全進口觸摸按鍵式儀表，操作設定簡單。

　　●資料及試驗條件輸入后，控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值。

　　●制冷機采用法國原裝“泰康"全封閉壓縮機。

　　●冷凍系統采用單元或二元式低溫回路系統設計。

　　●采用多翼式送風機強力送風循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內溫度分布均勻。

　　●具有P.I.D自動演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為穩(wěn)定。

　　冷熱沖擊機 高低溫冷熱沖擊試驗機高低溫試驗箱滿足標準：

　　●GB 10589-89 低溫試驗箱技術條件

　　● GB 11158-89 高溫試驗箱技術條件

　　● GB/T5170.2-1996 電工電子產品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備導則

　　● GB2424.1-89 電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗

　　● GB 10592-89 高低溫試驗箱技術條件

　　●GB2423.1-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

　　● GB2423.2-89 電工電子產品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法